- 通過將影像與WLI光學測頭的結合使用，可以實現更出人意料的高效率和精準性。
- 配備了白光干涉儀的高精度雙測頭影像測量系統。
- 一台測量機可執行尺寸測量、高度/表面紋理評估等多任務測量。
規格:
| Model No. | Hyper QV WLI 302 | Hyper QV WLI 404 | Hyper QV WLI 606 | |
| Optical system | QVW-H302P1L-D | QVW-H404P1L-D | QVW-H606P1L-D | |
| Order No. | 363-713 | 363-714 | 363-715 | |
| Measuring range (XxYxZ) | Vision measuring area | 300x200x190 mm | 400x400x240 mm | 600x650x220 mm |
| WLI measuring area | 215x200x190 mm | 315x400x240 mm | 515x650x220 mm | |
| Accuracy | E1X, E1Y | (0.8+2L/1000) µm | ||
| E1Z | (1.5+2L/1000) µm | |||
| E2XY | (1.4+3L/1000) µm | |||
